超声波测厚仪
超声波测厚仪

Leeb320/321/322

超声波测厚仪设计用于测量金属(铸铁、钢和铝等)和非金属(陶瓷、塑料、玻璃等)基底以及任何其他超声波导体的厚度,前提是它具有相对的

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类别: 金属

超声波测厚仪设计用于测量金属(铸铁、钢和铝等)和非金属(陶瓷、塑料、玻璃等)基底以及任何其他超声波导体的厚度,前提是其具有相对平行的顶面和底面

函数&;功能·与4mm校准块集成·两个显示单位:毫米和英寸·带有耦合指示·测量声速:根据物体的已知厚度,可以直接测量物体的声速

测量材料适用于作为超声波良导体的各种材料,如金属(钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、复合材料、环氧树脂、玻璃等

技术参数

Leeb320测量范围(mm):0.7~300(取决于探头和材料)分辨率(mm)∶0.1精度(mm)±(1%H+0.1),H为试件厚度速度范围(m/s):5920储存:无外壳:塑料工作温度:-10°C ~60°C安培:20%~90%尺寸(mm):130×70×25电源:1000~9999碱性电池重量(g):200g

Leeb321测量范围(mm)0.7~300(取决于探头和材料)分辨率(mm)0.1精度(mm 33391碱性电池重量(g